tanδ 介质损失角正切值试验

       介质损失角正切值的试验是一项灵敏度很高的试验 , 它可以发现电气设备绝缘整体受潮、劣化变质及小体积被试设备贯通和未贯通的局部缺陷 。 在《预规》中 , 这一项试验几乎包括在所有电气设备的试验项目中 。 它是判断绝缘性能的一种较为有效的方法 。 一、试验原理
       绝缘的介质损失角正切值tanδ可以用来反映介质损耗的大小 。 从介质损耗这一角度看 , 要求它的tanδ值越小越好 。
       当绝缘受潮、老化时 , 通过电阻的有功电流IR将增大 , 测量tanδ可以反映出整个绝缘的分布性缺陷 。 如果缺陷是集中性的 , 此时测量tanδ就不很灵敏 。 在《预规》中对电机、电缆等绝缘 , 因为整体绝缘的体积很大 , 而缺陷部分的体积很小时 , 测整体的tanδ就很难发现局部缺陷 , 所以不做此项试验 。
       对电气设备进行tanδ试验是基于视被试品为电容和电阻的并联等值电路 , 利用交流电桥平衡原理 , 用电桥臂中的已知电容和电阻来求出被试品的tanδ和电容Cx 。
【tanδ 介质损失角正切值试验】二、试验仪器和接线方式
       目前 , 我国普遍使用西林电桥和不平衡电桥两种电桥 , 近年来还出现了数字式自动介损测量仪 。 以下重点讨论西林电桥 , 对不平衡电桥也作简要介绍 。
       1.西林电桥的工作原理
       目前使用的QS1型西林电桥是测量电气设备绝缘的tanδ和电容量Cx的专用仪器 。 它是一种平衡交流电桥 , 优点是灵敏、准确 。 电桥工作电压为10kV , 有正、反接线和对角线三种接线方式(见图2-10) 。 一般采用正、反两种接线方式 。

tanδ 介质损失角正切值试验

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       正接线用于试品两端都不接地的场合 , 反接线用于现场设备一端已固定接地无法打开的场合 。 此时R3和Z4处于高电位 , 为保证安全 , 在R3、C4上装有绝缘杆 。 为确保试验人员的安全 , 试验人员应站在绝缘垫上 。
       图2-10中CN为无损耗标准电容器;Zx为被试品(Zx由Cx、Rx并联组成);R4为无感固定电阻;C4为可变电容箱;R3为十进电阻箱 。 调节R3、C4至电桥平衡 , 检流计G无电流通过 , 此时存在下列关系
UCA=UCB;UAD=UBD(大小相等、相位相同);UAB=0
       且有:     UCA/UAD=UCB/UBD
       当电桥平衡时 , 各桥臂电压之比应为各桥臂阻抗之比 , 即
ZX/Z3=ZN/Z4;ZXZ4=ZNZ3
       将等号两边的虚实部分分别相等 , 可以得到
Cx=(R4/R3)CN
tanδ=wC4R4
一般电桥的频率为50Hz, w=2π50=314(rad/s)
取电阻R4= 3184(Ω)=104/π(Ω) , 则
                tanδ=106C4=C4(μF)
       C4常选用微法级电容 , 故从电桥中读出的C4(μF)值即为被试品的tanδ值(%) , 而电容CN =50pF , R4= 3184Ω , 故Cx=159 200/R3(pF) 。
       当试品电容值大于3000pF时 , 应在桥臂上加人100Ω的分流电阻 , 分为98.8Ω和1.2Ω两部分 , 1.2Ω为微调电阻器(见图2-11) 。 此时可用下式求得Cx和tanδ
tanδ 介质损失角正切值试验

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tanδ 介质损失角正切值试验

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       式中  n——分流电阻 , 其值由抽头的位置决定 。
                p——微调滑线电阻 , 其值在0~1.2Ω之间 。
       2.对试验结果的判断和分析
       (1) tanδ值的判断 。 对照《预规》要求 , 不应超过规定值 。
       若有超出 , 应查明原因 , 必要时对被试品进行分解试验 。
       (2) 试验数值的相互比较 。 将所测得的tanδ值与历次测得的数据、与同一设备各相间、与其他同类型设备相互比较;差异明显增大时 , 应加以重视 。
       (3) 测试tanδ对电压的关系曲线 。 对良好的绝缘 , tanδ不随电压的变化而变化;对不良的绝缘 , tans将随电压上升 。
       (4) 应充分考虑温度的影响 。 在进行比较时 , 应在相同温度的基础上进行 。