M.L.Zheludkevich采用电化学阻抗测试(EIS)研究了铝合金膜层的耐蚀性及自愈性， 发现在膜层具有自愈性能， 扫描振荡电极技术(SVET)测试结果也进一步证实了膜层的自愈性 。
F.Zucchi等人研究了硅氧烷膜层对铜表面的防护性能， 发现含有硫醇键的硅烷与铜表面结合良好， 并可显著抑制表面阳极反应， 从而有效提高铜的防腐性能 。